Presentación

El análisis de las superficies sólidas, orientado al trabajo científico y de investigación, es fundamental en el estudio de sus propiedades mecánicas, físicas y químicas. Las técnicas espectroscópicas fotoelectrónicas de análisis de superficies se basan en el estudio de la energía de los electrones emitidos por el sólido cuando es irradiado con fotones de rayos X (espectroscopia fotoelectrónica de rayos X – XPS -) o ultravioleta (espectroscopia fotoelectrónica ultravioleta – UPS -). Estas técnicas permiten la identificación de los elementos y proporcionan información detallada sobre el estado de los enlaces químicos y la concentración de los átomos de la superficie.

Equipo

Personal
Dr. Miguel Antonio Peña Jiménez (Investigador a cargo)
Dr. José Carlos Conesa Cegarra (Investigador a cargo)
Dr. Cristina García Diego (Directora Técnica y Analista) – Persona de contacto

Se dispone de un sistema de espectroscopia electrónica SPECS GmbH con sistema UHV (presión aprox. 10-10 mbar), con analizador de energía PHOIBOS 150 9MCD, fuentes de rayos X monocromáticas (con doble ánodo Al/Ag) y no monocromáticas (con doble ánodo Al/Mg), fuente de electrones para la compensación de cargas, fuente de fotones UV, fuente de iones y cámara de pretratamiento de muestras (HPC).

Política de calidad

Este Servicio cuenta con un Sistema de Gestión de Calidad certificado por AENOR bajo la norma ISO 9001 (ER-0305/2008-2020).
El Servicio de Espectroscopia Fotoelectrónica asume en su Política de Calidad el compromiso de satisfacer los requisitos de esta norma, como medio para conseguir y mantener un alto grado de calidad en todos los análisis realizados.
Carta de compromiso

 Equipo

Sistema de espectroscopia de fotoelectrones

Cámara de análisis con sistema UHV (presión aprox. 10-10 mbar)
SPECS PHOIBOS 150 Analizador de potencia de 9MCD con detector multicanal de electrones (9 canales) para XPS y UPS
Fuente de rayos X no monocromática, con doble ánodo de Al/Mg
Fuente de rayos X monocromática, con doble ánodo Al/Ag
Fuente de electrones, para la compensación de la carga
Fuente de fotones ultravioleta, para análisis de UPS
Fuente de iones, para perfiles de profundidad

Cámara de introducción de muestras

Cámara de reacción (HPC)

Servicio

El Servicio de Espectroscopia Fotoelectrónica presta apoyo analítico al personal investigador del Instituto de Catálisis y Petroleoquímica y de otros centros del CSIC, así como a las universidades, centros de investigación y empresas u organismos privados que lo soliciten. Solicitud de análisis Para solicitar el análisis, el XPS y/o la Solicitud de UPS deben ser completados y entregados con las muestras al Director Técnico del Servicio. En caso de que se desee un pre-tratamiento de presión y temperatura y un análisis posterior, por favor, rellene sólo el formulario de Solicitud de Análisis HPC+. Guía de funcionamiento Antes de presentar la solicitud, por favor lea cuidadosamente la Guía para el funcionamiento del Servicio de Espectroscopia Fotoelectrónica Información de contacto Director Técnico y Analista del Servicio de Espectroscopia Fotoelectrónica: Dra. Cristina García Diego Ubicación: Servicio de Espectroscopia Fotoelectrónica – Laboratorio S11 Instituto de Catálisis y Petroleoquímica (CSIC) C/ Marie Curie 2 28049 Cantoblanco, Madrid, España Email: xps@icp.csic.es Teléfono: 915854634 Fax: 915854760

Plazo máximo de entrega de resultados por formulario de solicitud

XPS Analysis 4 months
Ion pickling analysis + XPS 6 months
HPC + XPS analysis 6 months
UPS Analysis 4 months

Notas:
Los plazos actuales para las solicitudes de análisis después del 12/11/2019.
Los plazos son en días naturales.
Los plazos están condicionados a haber depositado las muestras a analizar en el Servicio de Espectroscopia Fotoelectrónica.
Con el fin de no aumentar los tiempos de espera para otros usuarios, para aquellos investigadores principales que presenten más de 1 Formulario de Solicitud cada 15 días para cualquiera de las técnicas ofrecidas por el Servicio, se duplicará el tiempo de entrega de los resultados.
Cuando se soliciten condiciones especiales de análisis, tal y como se refleja en los Anexos de los Formularios de Solicitud, el plazo de entrega de los resultados dependerá de la demanda del Servicio en cada momento, con un plazo máximo de 6 meses.
Estos plazos podrán ser modificados por períodos de vacaciones, licencias, falta de disponibilidad de personal, etc.

Tarifas

Institutos y centros del CSIC 33.88 €/hora(H2020)
8.49 €/hora (otros proyectos)
Administraciones Públicas, Organismos Públicos de Investigación,
ICTS, Fundaciones y Universidades
66.26 €/hora
El resto de entidades 100.97 €/hora
Institutos y Centros CSIC 33.88/hora (H2020)
10.79/hora (otros proyectos)
Administraciones Públicas, Organismos Públicos de Investigación,
ICTS, Fundaciones y Universidades
68.73/hora
Resto de Entidades 104.72 euros/hora
Institutos y Centros CSIC 33.88/hora (H2020)
10.79/hora (otros proyectos)
Administraciones Públicas, Organismos Públicos de Investigación,
ICTS, Fundaciones y Universidades
68.73/hora
Resto de Entidades 104.72 euros/hora
Institutos y Centros CSIC 67.77/muestra(H2020)
22.98/ muestra(otros proyectos)
Administraciones Públicas, Organismos Públicos de Investigación,
ICTS, Fundaciones y Universidades
139.08 euro/muestra
Resto de Entidades 211.93 euros/muestra

Notas:
Tarifas actuales de las solicitudes de análisis después del 17/01/2020.
En el caso de la tarificación por hora, sólo se contarán las horas completas (redondeadas hacia arriba) de preprocesamiento realizado o de análisis del espectro entregado al usuario.
Se aplicarán tarifas especiales con las entidades con las que haya acuerdos o arreglos.
Cuando proceda, se aplicará el IVA.
Estas tarifas no incluyen la interpretación de los resultados.
Los resultados del Perfil de Profundidad se entregarán por tiempo de decapado. En el caso de que se desee por unidad de profundidad y el Servicio de Espectroscopia Fotoelectrónica no disponga de los datos para las condiciones de análisis que el solicitante desea, éste deberá aportar el material de referencia, así como será responsable económicamente del perfil de profundidad del mismo.

Otra información

Con el fin de ayudar a los usuarios de XPS, se puede descargar una clase sobre XPS impartida por Miguel Antonio Peña Jiménez en el contexto de diferentes cursos sobre caracterización de materiales inorgánicos. En ella se describen los fundamentos básicos de la técnica y se dan las bases para la manipulación e interpretación de los espectros.

Haga clic aquí para descargar la hoja de cálculo Oberon MS Excel 97, que le permite determinar todas las líneas XPS y Auger que una muestra dada puede presentar, a partir de su composición atómica elemental. Cuando abra el archivo, debe elegir la opción “Habilitar Macros”. Esta es una versión de prueba, por lo que las sugerencias de los usuarios son bienvenidas.

Bases de datos XPS:

Lasurface CNRS-VG Scientific

XPS, Auger y UPS base de datos desarrollada por el CNRS con la ayuda de VG Scientific.

Base de datos NIST XPS

Base de datos XPS del NIST (Instituto Nacional de Normas y Tecnología).

Asociaciones:

Foro de Análisis de Superficie del Reino Unido

Bases de datos, técnicas de ciencia de la superficie, cursos, noticias, revistas, conferencias, grupos de investigación y enlaces de interés.