Presentación

El análisis de las superficies sólidas, orientado al trabajo científico y de investigación, es fundamental en el estudio de sus propiedades mecánicas, físicas y químicas. Las técnicas espectroscópicas fotoelectrónicas de análisis de superficies se basan en el estudio de la energía de los electrones emitidos por el sólido cuando es irradiado con fotones de rayos X (espectroscopia fotoelectrónica de rayos X – XPS -) o ultravioleta (espectroscopia fotoelectrónica ultravioleta – UPS -). Estas técnicas permiten la identificación de los elementos y proporcionan información detallada sobre el estado de los enlaces químicos y la concentración de los átomos de la superficie.

Equipo

Personal
Dr. Miguel Antonio Peña Jiménez (Investigador a cargo)
Dr. José Carlos Conesa Cegarra (Investigador a cargo)
Victoria Eugenia García Sánchez (Directora Técnica y Analista) – Persona de contacto
Dra. Raquel Sainz Vaque (Analyst) Persona de contacto

Se dispone de un sistema de espectroscopia electrónica SPECS GmbH con sistema UHV (presión aprox. 10-10 mbar), con analizador de energía PHOIBOS 150 9MCD, fuentes de rayos X monocromáticas (con doble ánodo Al/Ag) y no monocromáticas (con doble ánodo Al/Mg), fuente de electrones para la compensación de cargas, fuente de fotones UV, fuente de iones y cámara de pretratamiento de muestras (HPC).

Política de calidad

ndice

Este Servicio cuenta con un Sistema de Gestión de Calidad certificado por AENOR bajo la norma ISO 9001 (ER-0305/2008-2020).
El Servicio de Espectroscopia Fotoelectrónica asume en su Política de Calidad el compromiso de satisfacer los requisitos de esta norma, como medio para conseguir y mantener un alto grado de calidad en todos los análisis realizados.
Carta de compromiso

 Equipo

Cámara reacción

Sistema de espectroscopia de fotoelectrones

Cámara de análisis con sistema UHV (presión aprox. 10-10 mbar)
SPECS PHOIBOS 150 Analizador de potencia de 9MCD con detector multicanal de electrones (9 canales) para XPS y UPS
Fuente de rayos X no monocromática, con doble ánodo de Al/Mg
Fuente de rayos X monocromática, con doble ánodo Al/Ag
Fuente de electrones, para la compensación de la carga
Fuente de fotones ultravioleta, para análisis de UPS
Fuente de iones, para perfiles de profundidad

Cámara de introducción de muestras

Cámara de reacción (HPC)

Servicio

El Servicio de Espectroscopia Fotoelectrónica presta apoyo analítico al personal investigador del Instituto de Catálisis y Petroleoquímica y de otros centros del CSIC, así como a las universidades, centros de investigación y empresas u organismos privados que lo soliciten.

Solicitud de análisis
Para solicitar el análisis, el XPS y/o la Solicitud de UPS deben ser completados y entregados con las muestras al Director Técnico del Servicio.
En caso de que se desee un pre-tratamiento de presión y temperatura y un análisis posterior, por favor, rellene sólo el formulario de Solicitud de Análisis+HPC.

Guía de funcionamiento
Antes de presentar la solicitud, por favor lea cuidadosamente la Guía para el funcionamiento del Servicio de Espectroscopia Fotoelectrónica

Información de contacto
Director Técnico y Analista del Servicio de Espectroscopia Fotoelectrónica:
Victoria Eugenia García Sánchez y Dra. Raquel Sainz Vaque
Ubicación:
Servicio de Espectroscopia Fotoelectrónica – Laboratorio S11 Instituto de Catálisis y Petroleoquímica (CSIC)
C/ Marie Curie 2 28049 Cantoblanco, Madrid, España

Email: xps@icp.csic.es
Teléfono: 915854634
Fax: 915854760

Plazo máximo de entrega de resultados por formulario de solicitud

Análisis XPS 4 meses
Análisis de decapado de iones + XPS 6 meses
Análisis HPC + XPS 6 meses
Análisis de UPS 4 meses

Notas:

  • Plazos actuales para las solicitudes de análisis posteriores al 12/11/2019.
  • Los plazos están en días naturales.
  • Los plazos están condicionados a haber depositado las muestras a analizar en el Servicio de Espectroscopia Fotoelectrónica.
  • Con el fin de no aumentar los tiempos de espera para el resto de usuarios, para aquellos investigadores principales que presenten más de 1 Solicitud cada 15 días para cualquiera de las técnicas que ofrece el Servicio, el plazo de entrega de resultados se duplicará.
  • Cuando se soliciten condiciones especiales de análisis, reflejadas en los Anexos de los Formularios de Solicitud, el plazo de entrega de resultados dependerá de la demanda del Servicio en cada momento, con un plazo máximo de 6 meses.
  • Estos plazos podrán ser modificados por periodos vacacionales, permisos, falta de disponibilidad de personal, etc.

Tarifas

Instituto de Catálisis y Petroleoquímica 31.61 €/hora(H2020)
7.82 €/hora (otros proyectos)
Institutos y centros del CSIC 31.61 €/hora(H2020)
9.17 €/hora (otros proyectos)
Administraciones Públicas, Organismos Públicos de Investigación,
ICTS, Fundaciones y Universidades
66.46 €/hora
El resto de entidades 101.28 €/hora
Instituto de Catálisis y Petroleoquímica 31.61 €/hora (H2020)
9.85 €/hora (otros proyectos)
Institutos y centros del CSIC 31.61 €/hora (H2020)
11.55 €/hora (otros proyectos)
Administraciones Públicas, Organismos Públicos de Investigación,
ICTS, Fundaciones y Universidades
69.01 €/hora
El resto de entidades 105.16 euros €/hora
Instituto de Catálisis y Petroleoquímica 31.61 €/hora (H2020)
9.85 €/hora (otros proyectos)
Institutos y centros del CSIC 31.61 €/hora (H2020)
11.55 €/hora (otros proyectos)
Administraciones Públicas, Organismos Públicos de Investigación,
ICTS, Fundaciones y Universidades
69.01 €/hora
El resto de entidades 105.16 €/hora
Instituto de Catálisis y Petroleoquímica 63.21 €/hora (H2020)
20.06 €/hora (otros proyectos)
Institutos y centros del CSIC 63.21 €/hora (H2020)
23.53 €/hora (otros proyectos)
Administraciones Públicas, Organismos Públicos de Investigación,
ICTS, Fundaciones y Universidades
138.57 €/hora
El resto de entidades 211.16 €/hora

Tarifas especiales

UAM (tarifa de CSIC H2020 – costes elegibles) 31.61 €/hora
Parque científico de Madrid (descuento del 20% sobre tarifa de Empresas y Organismos Privados) 81.02 €/hora
UAM (tarifa de CSIC H2020 – costes elegibles) 31.61 €/hora
Parque científico de Madrid (descuento del 20% sobre tarifa de Empresas y Organismos Privados) 84.13 €/hora
UAM (tarifa de CSIC H2020 – costes elegibles) 31.61 €/hora
Parque científico de Madrid (descuento del 20% sobre tarifa de Empresas y Organismos Privados) 84.13 €/hora
UAM (tarifa de CSIC H2020 – costes elegibles) 63.21 €/hora
Parque científico de Madrid (descuento del 20% sobre tarifa de Empresas y Organismos Privados) 168.93 €/hora

Notas:
Tarifas vigentes para solicitudes de análisis posteriores a 01/03/2021.
In the case of hourly rates, only whole hours (rounded up) of pretreatment En el caso de que la tarificación sea por hora, sólo se computarán las horas enteras (redondeadas al alza) de pretratamiento efectuado o de análisis de espectros entregados al usuario.
Se aplicarán tarifas especiales con aquellas entidades con las que existan acuerdos o convenios.
Cuando corresponda, se aplicará el IVA que esté en vigor.
Estas tarifas no incluyen la interpretación de resultados.
Los resultados de Perfil de Profundidad se entregarán por tiempo de decapado. En el caso de que se desee por unidad de profundidad y el Servicio de Espectroscopía Fotoelectrónica no disponga de los datos para las condiciones de análisis que el solicitante desee, éste ha de suministrar el material de referencia, así como también se hará cargo económicamente del perfil de profundidad del mismo.

Otra información

Con el fin de ayudar a los usuarios de XPS, se puede descargar una clase sobre XPS impartida por Miguel Antonio Peña Jiménez en el contexto de diferentes cursos sobre caracterización de materiales inorgánicos. En ella se describen los fundamentos básicos de la técnica y se dan las bases para la manipulación e interpretación de los espectros.

Haga clic aquí para descargar la hoja de cálculo Oberon MS Excel 97, que le permite determinar todas las líneas XPS y Auger que una muestra dada puede presentar, a partir de su composición atómica elemental. Cuando abra el archivo, debe elegir la opción “Habilitar Macros”. Esta es una versión de prueba, por lo que las sugerencias de los usuarios son bienvenidas.

Bases de datos XPS:

Lasurface CNRS-VG Scientific

XPS, Auger y UPS base de datos desarrollada por el CNRS con la ayuda de VG Scientific.

Base de datos NIST XPS

Base de datos XPS del NIST (Instituto Nacional de Normas y Tecnología).

Asociaciones:

Foro de Análisis de Superficie del Reino Unido

Bases de datos, técnicas de ciencia de la superficie, cursos, noticias, revistas, conferencias, grupos de investigación y enlaces de interés.